电感耦合等离子体发射光谱仪/质谱仪(ICP-OES/MS)

 

在等离子发射光谱仪中（OES），试样溶液被引入到电感耦合氩等离子体（ICP）的中心，那里的温度大约为8000°C。在如此高的温度下，所有的元素都会热激发并发射特征波长的光。光谱仪收集这些光并传递给能够将这些光转化为成份波长光谱的衍射光栅。在光谱仪中，依据波长被收集的衍射光谱被放大以便于对其强度测量，进而转化为相比于校正标准的元素成分。

在等离子质谱仪中（MS），电感耦合氩等离子体（ICP）再次被用于所分析元素的激发源。然而相比于发射光谱仪（OES）， ICP-MS中的等离子体被用于产生被引入质谱分析器中的离子，这些离子随后依据其质荷比被分离并收集， 那么就能识别和测量未知试样的组分。ICP-MS为大范围元素分析提供了非常高的灵敏度。

 

ICP-OES/MS
技术能力

信号检测:
光子 (OES) 或 离子(MS)

元素测定:
 70种元素

检测限:
ppb

深度分辨率:
体相分析

成像/绘图:
无

 

ICP-OES/MS分析的理想用途

• 可对大量、少量或者微量组分的体相定量测量分析
• 可用于宽范围材料的大量和少量组分的高准确性的确定
• 用于质量和过程控制

 

ICP-OES/MS分析的相关工业应用

• 航空领域
• 溅射靶材
• 化学
• 合金生产
• 食物和饮料
• 地质
• 制药
• 环境水、废水、处理水

 

ICP-OES/MS分析的优点

• 在同一试样中能够同时确定很多元素（理论上可达70种）
• 有用的工作范围可以超过几个数量级
• 设备适宜于自动控制，因此可提高准确度、精度和生产量
• ICP OES和MS技术的结合使用对于确定高准确度和精度的从主要组分到很好的探测极限（典型的低于十亿分之一）的超大范围元素非常有力

 

ICP-OES/MS分析的局限性

• 发射光谱复杂，并且如果被分析元素的波长和其他元素的非常接近可能会有内部元素干涉
• 质谱分析中在确定某些元素时共有的基体元素和其他的分子核素会产生干涉，其中一些双电荷或分子离子会有量化的困难
• 为了溶解要分析的元素，被分析的试样必须能在分析前被溶解